蛍光X線分析計 X-200シリーズ

蛍光X線分析計 X-200シリーズ

概 要

    X線蛍光分析計(XRF)は試料にX線を照射することにより発生する各元素特有の蛍光X線を検出することにより、試料を構成する元素を同定するだけでなく、その成分比率も分析します。
    XRFは原理的に非破壊・非侵襲の測定装置です。
    アプリケーションとしては、ハンドヘルド型の特長を生かして、鉱業分野での採掘・試掘における鉱物分析、工業分野での資材等の金属や合金の同定・選別、RoHSやCPSIAなどの安全性適合テスト、SDG’s 分野でのスクラップ工場における廃材金属の同定・選別、環境分野での土壌汚染調査、さらにはその非侵襲の特性を生かして美術品や工芸品の判定など幅広い分野が想定されます。
    X-200シリーズは普及版のモデルです。ハイエンド機とほぼ同等の測定性能を持ち、ユーザーインターフェースも同じです。測定される試料に合わせて2種類の光源を用意しております。
    お客様の目的に合わせた本体ソフトウエア・ライブラリをご用意しているだけでなく、オプションのPCソフトウエアにより、お客様独自の検量線を作成いただくことも可能です。

ディスプレイ

    X-200シリーズは3.5インチ液晶カラータッチスクリーンを採用しており、大きく高い視認性を誇ります。

仕 様

X線管電圧およびターゲット材 40kV Rh管 または 50kV Au管
検出器 20mm2シリコンドリフトディテクタ
フィルター 6種類
使用環境温度 -10℃~50℃(25%デューティー比)
電源 Li-ionバッテリー(着脱可能)
付属ACアダプタによる動作可能
ディスプレイ 3.5インチカラータッチパネル
データ転送 USB、WiFi、Bluetooth
サンプル記録 照射窓カメラ、全景カメラの2台を搭載
重量 1.4kg(バッテリー含む)
外形寸法 238mm×283mm×84mm

お問い合わせ

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