ハンドヘルド型分析計 HH XRF

ハンドヘルド型分析計 HH XRF

概 要

  • 測定時にのみ開く高速のシャッターを搭載。指や工具にて突き刺してしまうことや測定時に金属試料が開口部を突き刺し、検出器まで突き刺してしまうことを防止可能
  • 分析例:軽元素のMg(>0.7%のAlベース)、Al、Si、S、Pを2~3秒で測定。合計5秒の測定時間
  • 分析例:Alベース6063、356、3004中のMg 0.4%を5秒で測定。合計7秒の測定時間

仕 様

重量 約1.5 kg
外形 W18.4cm x H26.7cm x D11.4cm
使用環境温度 -10℃~50℃
電源 Li-ionバッテリ(脱着可能)
稼働:4時間 (充電3時間)
ディスプレイ 5インチ 液晶カラータッチスクリーン
データ転送 USB, Bluetooth
校正確認 内蔵のシャッター(SUS316)にて自動校正
自動エネルギー尺度検証
合金モード 500種類以上のデータが登録
安全性 パスワードロック、X線照射警告ランプ
シャッター:測定時のみ自動で開く機構

製品モデル一覧

HH-XRF X-250

  • 世界最速で測定が可能なXRF。500μAのビームはMg, Al, Si, P, S の最短、最良の測定が可能
  • 2秒で0.25% のMgを判別可能。4秒で低合金、ステンレス中にある0.05%のSi、0.005%のPとSが判別可能

HH-XRF X-200

  • 標準機。合金中の判別を7秒で実施
  • 土壌試験にも優れている
Xシリーズ

HH-XRF X-50

  • 最も安価なXRF。Si Pinにて高計数率(45K cps)なので、高精度で検出限界(LOD)も良い
X50

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