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製品情報
無地表面検査装置
無地表面品質検査装置
Mujiken+

概要

高機能フィルム検査の最高峰!
Mujiken+は、超高速モノクロカメラと画像処理エンジン、そしてシステムとユーザをつなぐソフトウェアです。

特長

高速ラインでもあらゆる欠点を見逃さない
●さらに高速化した画像処理機能
検査専用高速処理基板のハードウェア化により従来比約2 倍の画像処理を実現。
正確な測長を実現可能にする“ ラベリング機能” を強化。
ムラやノイズを補正する“ シェーディング補正機能”“ フィルター機能”を強化。
●新たな検査頭脳アルゴリズムの追加
ムラ、薄汚れ、横スジといった、検出が難しい欠点を対象に開発された“ 薄汚れ” “ 横スジ” 検査回路を新たに追加。
ストリーク強調処理による縦スジ検出回路のさらなる強化。
●対応カメラの充実化、光学系の進化
超高速モノクロカメラ 640MHz、320MHz(10 ビット)にも対応し、処理速度倍増。
カラーカメラを新たにラインナップ。
LED 照明のみならず、近赤外光、紫外光などの、特殊照明との組み合せが可能。これら光学系の進化により、見えない欠点の可視化など対応範囲が拡大し、検出能力が大幅にアップ。
●OS をリニューアル
Windows 7 Embedded にリニューアル。高速データ処理を実現。 光通信採用により、ハードウェア設計の大幅な簡略化を実現。これにより、PC の信頼性が飛躍的に向上。
●ツイン・モニタ対応を実現
外部モニタ増設により、欠点画像の拡大表示が可能。
オペレータ監視場所に設置し、異常欠点を早期発見。

スピーディなデータ分析、新たな検査頭脳アルゴリズム。
●無地ウェブの表面の欠点を検査画像処理で正確に抽出します。

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●ムラ、薄汚れ、横スジといったこれまで検出が難しかった欠点を対象に、この度新たに開発した検査回路も加えました。
ストリーク強調処理による、縦スジ検出回路をさらに強化しました。

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オペレーション

ビューワによる欠陥分類基準の自動生成機能
●対象欠陥データに基づき統計分析をおこない、類似欠陥同士をグルーピングする種別データを自動生成します。(全欠陥データから自動的にランダムサンプリング(系統抽出法)を実行して対象データを絞り込みます)

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統計分析によるグループ化

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ツイン・モニタ対応を実現
外部モニタを増設したことにより、欠点画像の拡大表示が可能となりました。モニタをオペレータが監視する場所に設置することで、異常欠点を 早い段階で発見することができます。

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ツイン・モニタ画面参考例



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